你的位置：首页 > 产品展示 > 电力电子测试与测量仪器 > 函数/任意波形发生器 > AFG31000 任意波函数发生器(Tektronix)
产品详细页
产品介绍
AFG31000 任意波函数发生器(Tektronix)
优异的指标
- 单或双通道型号
- 接到 50Ω 负载时的输出幅度范围 1 mVp-p 至 10 Vp-p
- 基本 (AFG) 模式
- 25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形
- 250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采样率
- 14 位垂直分辨率
- 连续、调制、扫描与突发模式
- 各通道均具有 128 k 点的任意波形内存
- 高级模式
- 连续模式和选配序列、触发和选通模式
- 各通道均具有 16 M 点的任意波形内存（可选 128 M 点）
- 在包含循环、调整和等待事件的序列模式下多达 256 步
- 变量采样时钟 1 µSa/s 至 2 GSa/s
- 最小波形长度 168 点，粒度为 1 点
将噪声和抖动降低 10 倍
AFG31000（上波形）与上一代 AFG（下波形）的抖动
由于噪音本底较低且输出幅度低至 1mVpp，噪音和抖动技术规格比上一代技术好 10 倍，可以确保测试的清晰度和保真度。
在线升级
由于架构基于软件，您可以直接从网站使用满足需求的选件升级 AFG31000。
当前可用
- 带宽升级
- 内存大小升级
- 波形排序升级
由于架构基于软件，您可以直接从网站使用满足需求的选件升级 AFG31000。
当前可用
- 带宽升级
- 内存大小升级
- 波形排序升级
| 型号 | 模拟通道 | 输出频率 | 记录长度 | 采样率 | 垂直分辨率 | 报价 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| AFG31021 |
1 |
25 MHz |
16 MSa/通道 |
250 MS/s |
14 位 |
US $2,480 配置和报价 |
| AFG31051 |
1 |
50 MHz |
16 MSa/通道 |
500 MS/s |
14 位 |
US $2,750 配置和报价 |
| AFG31022 |
2 |
25 MHz |
16 MSa/通道 |
250 MS/s |
14 位 |
US $3,780 配置和报价 |
| AFG31052 |
2 |
50 MHz |
16 MSa/通道 |
500 MS/s |
14 位 |
US $4,130 配置和报价 |
| AFG31101 |
1 |
100 MHz |
16 MSa/通道 |
1 GS/s |
14 位 |
US $4,810 配置和报价 |
| AFG31151 |
1 |
150 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $5,640 配置和报价 |
| AFG31102 |
2 |
100 MHz |
16 MSa/通道 |
1 GS/s |
14 位 |
US $6,790 配置和报价 |
| AFG31152 |
2 |
150 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $7,980 配置和报价 |
| AFG31251 |
1 |
250 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $10,800 配置和报价 |
| AFG31252 |
2 |
250 MHz |
16 MSa/通道 |
2 GS/s |
14 位 |
US $15,800 配置和报价 |
真实场景信号复制
传感器广泛用于几乎所有现代化电子设计领域，从汽车到医疗器械再到电子消费品。 迄今为止，使用 AFG 捕获波形并进行复制以便排除故障或验证一直是极具挑战的过程。
- ArbBuilder 可直接导入多个泰克示波器产品系列保存的 csv 格式的波形
- 高达 128 M 点的任意内存极大地增加了信号的长度
- 低噪音本底使信号更为清晰
函数验证和性能检定
在产品上市前，测试工程师必须进行大量测试用例，确保产品满足技术规格。 但是，此过程比较耗时且重复。
- 完全可编程，实现自动测试和手动测试的直观用户界面
- 波形序列使用户在一个序列中序列化所有测试程序
- 灵活的重复跳转方法保证高效率
- 高达 128 M 点的任意内存和内置非易失性闪存存储所有波形和测试程序
系统与时钟或脉冲同步
数字设计中的所有电路部分按照时钟速度同时工作。大系统中的所有设备必须与触发信号协调，以确保它们正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成时钟和触发脉冲的有效方法。
- 脉冲/方波频率范围高达 160 MHz
- 频率捷变实现时钟不同速率的无缝切换
- 易用的向导说明指导您完成多台设备的同步过程以便增加通道数
- 低抖动水平，让您在触发系统时更加自信
双脉冲测试
双脉冲测试是一种用于测量开关器件参数和评估 MOSFET 和 IGBT等功率器件动态性能的方法。双脉冲测试可测量开启参数、关闭参数和反向恢复参数。
执行此测试可：
- 确保MOSFET 和 IGBT 等功率器件满足产品规格书中的规格
- 确认功率器件或电源模块的实际值或偏差
- 在各种负载条件下测量这些开关器件的参数，并在多个设备上验证性能
高级研究和教育
研究人员和教师需要大量信号才能完成研究和教学工作。 测试可以像一系列的脉冲一样简单，模拟 Geiger-Muller 计数器的输出，或者像一个长基带 IQ 一样复杂。
- InstaView™ 技术避免因连接复杂负载上增加输出波型的不确定性
- 整合多种特性与功能
- 双工作模式均衡易用性和灵活性以便生成最复杂波形
- 内置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和编辑任意波形
- 上一篇：混合域示波器
